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0前言

    經(jīng)過多年的發(fā)展，光纖光纜領(lǐng)域的技術(shù)標準已經(jīng)逐步形成了一套相對穩(wěn)定的標準體系。其中ITU-T的G.65x系列建議書，IEC的60793和63794系列標準，GB/T9771、GB/T15972、GB/T12357等系列國家標準，以及以行業(yè)標準為主的一系列光纜標準等，為光纖光纜產(chǎn)品的生產(chǎn)、工程建設(shè)和進出口檢驗提供了先進、統(tǒng)一的技術(shù)規(guī)范，提高了整個行業(yè)的標準化、規(guī)范化程度。

    隨著近年來光纖光纜技術(shù)的進一步發(fā)展，部分標準的技術(shù)細節(jié)也在隨之更新和修訂，以更加適應(yīng)市場的需要。本文主要介紹了2009年以來在光纖光纜領(lǐng)域技術(shù)標準的最新進展情況，并針對最新的修訂內(nèi)容進行了詳細解釋。

    1光纖技術(shù)標準進展

    1.1ITU-T光纖技術(shù)標準進展

    1.1.1ITU-TG.650.1

    ITU-TG.650.1于2010年進行了修訂，其中主要的更新為以下幾點。

    a)ITU-TG.650.1-2009第5.3節(jié)，刪除了跳線截止波長的測試方法。由于實際意義較小，單模光纖規(guī)范中均刪除了跳線截止波長的定義和指標要求。

    b)ITU-TG.650.1-2009第5.3.1.3節(jié)，截止波長的測試步驟，對打圈參考法和多模參考法的使用進一步給予了詳細解釋。對于打圈參考法，所打圈的半徑應(yīng)該在測試之前予以確定。圈的半徑應(yīng)足夠小，以濾除次高階模式，卻不應(yīng)太小，以至于引起長波長處的宏彎損耗。對于G.652~G.656光纖來說，典型的打圈半徑為10~30mm，但對于某些G.657光纖，圈的半徑可能要求更小。對于一些G.657光纖，由于其優(yōu)異的抗彎曲特性，使用打圈參考法測試截止波長可能并不適合，這種情況下，推薦使用多模參考法進行測試。

    c)ITU-TG.650.1-2009第5.6節(jié)，增加了宏彎損耗的測試方法。

    1.1.2ITU-TG.650.3

    ITU-TG.650.3于2011年以增補文件的形式新增了資料性附錄三：“在已安裝的鏈路上區(qū)分宏彎點和熔接點的方法”，其主要原理是依據(jù)測試2個波長處的雙向OTDR曲線，對于某一個損耗事件點，根據(jù)2個波長處實測損耗值，計算宏彎因子，再通過宏彎因子判斷該處是否為異常宏彎點。由于G.657光纖的彎曲損耗一般很小，建議書中注明了此方法一般只適用于G.652光纖。同時，在不清楚鏈路中使用的光纖類型時，此方法也不適用。

    1.1.3ITU-TG.652~G.656

    G.652~G.656系列標準均在2009—2010年進行了更新，但實際的技術(shù)指標并沒有大的變化。

    所有單模光纖系列的標準中，均刪除了跳線截止波長的相關(guān)內(nèi)容。

    1.1.4ITU-TG.657

    2009版的ITU-TG.657較上一版本變化較大，主要表現(xiàn)在對光纖分類上，由最早的G.657A和G.657B改為了G.657A1、A2、B2、B34個子類。

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